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单光子探测器

TeraPhotonics™系列核心产品

定制,可扩展

超低噪声硅雪崩光电二极管和其它单光子探测器件

波段范围为250 nm -1700 nm

器件冷却和过压保护设计

单光子计数装置提供光子高检测效率、宽动态范围和实用性应用。结合超低噪声硅雪崩光电二极管和其它单光子探测器件,具有专门开发的光学、电路和信号处理电子设备,该模块可以提供单光子所需的检测波段范围为250nm - 1700 nm(根据客户需求定制,可扩展)。对于器件冷却和过压保护,装置有专门的设计。结合超导单光子探测器件,装置可应用于诸多前沿研究。

高效、稳定

稳定的计数率

DC电源

高质量

极低的暗计数率和背景噪声

多种规格

可选多种定制规格的FC光纤连接器

DC电源操作

主要探测器件 

 

Si APDs 

硅雪崩光电二极管的检测范围为250 ~ 1100nm,Si APDs雪崩效应使其非常适合检测弱光的信号。

 

InGaAs APD 

InGaAs雪崩光电二极管用于检测1100 ~ 1700nm光谱范围内的信号。其噪声低于锗二极管,是对Si APDs检测范围的延伸补充。

应用场景:

 

量子通讯、医学成像研究、激光雷达、天文学、自动驾驶、卫星遥感、光谱学、医学&生物研究高清成像、激光监测、非接触式温度测试、分光光度法等。

矽赫科技的C波段掺铒光纤放大器(EDFA)含两款类型,均采用低噪声和高增益掺铒光纤,可用于放大C波段内的多个波长信号。其中增益平坦型采用优化的增益平坦技术,在C波段内增益平坦度小于1dB;常规型在C波段内增益平坦度小于3.5dB。该放大器配合温度检测和增益反馈技术,可实现光功率的高稳定度输出,并支持通过上位机软件调节增益大小。

技术升级

采用优化的增益平坦技术,使增益平坦型在C波段内增益平坦度小于1dB,常规型小于3.5dB

稳定、可靠

配合温度检测和增益反馈技术,可实现光功率的高稳定度输出

简便、易用

通过上位机软件调节增益大小,界面简洁,操作简单